²
²²ÜÜÜÜ
Þ²ÛÛÛÝ
Þ²ÛÛÛÝ                                    ß       ÜÜÜÜÜÜÜÜÛÜÜ
ÞÛÛÛÛÝßßßßßßßßÛÛÜÜ  ÜÜÜÛßßßßßßßÛÛÜÜ    ÜÜ ² ÜÛßßßßßß ÜÜÜ ßÛÛßßßßßßßßßßßßÛÜÜ
ÞÛÛÛÛÛßßßÛÛÛÛÜÜÜ ßÛÛß ÜÜÜÛÛßßÛÜÜÜ ßßßÛÛß  ²ÜÜÜÜÛÛßßßÛÛÛÛÛÝß ÜÛÛÛÜÛßßÛÛÛÜÜÜ ß
ÛÛÛÛÛÛ     ßÛÛÛÛÛÜ  ÜÛÛÛÛß    ßÛÛÛÛÛÜ Ý ÜÛ²ÛÛÛß     ÞÛÛÛÛÛ ÛÛÛÛÛß    ßÛÛÛÛÛÛÜ
ÞÛÛÛÛÝ      ÞÛÛÛÛÛ ÛÛÛÛÛÝ      ÞÛÛÛÛÛÝ ÞÛ²²ÛÛ        ÛÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ      ÞÛÛÛÛÛÛÝ
ÞÛÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÝÞÛÛÛÛÛ      ÜÛÛÛÛß   Ûß²²ÛÝ        ÞÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÛÛÛ
ÞÛÛÛÛÝ       ÛÛÛÛ ÛÛÛÛÛÝ   ÜÜÛßßß     ÜÜÜÛ²ÛÝ        ÞÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÛÛÛÝ
ÞÛÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÝÞ²ÛÛÛÛ          ÜÜÛÛÛÛÛÛ²ÞÛ        ÞÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ       ÞÛÛÛÛÛÛÝ
ÞÛÛÛÛÝ °°°° ÞÛÛÛÛÛ²²ÛÛÛÛÝ °°°°° ÜÛÛÛÛÛÛÛÛÛ² ÛÝ °°°°° ÛÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ °°°°° ÞÛÛÛÛÛÛÛ
ÞÛÛÛÛÝ     ÜÛÛÛÛÛÛ²²ÛÛÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÛÛÛÛÛÛÝÞÛÜ     ÞÛÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ       ÞÛÛÛÛÛÛÝ
ÞÛÛÛÛÝ   ÜÛÛÛÛÛß Ü ²ßÛÛÛÛÛÜ      ÞÛÛÛÛÛÛÛÛÛÛ ßÛÛÜÜܲßÛÛÛÛÛÝÞÛÛÛÝ       ÛÛÛÛÛÛÛ
ßßßßßÛÜßßßß ÜÜÜÜÛÛÛÛÜ  ßßßßßßÛÜÜÜÛÛÛÛßßßß ÜÜÜÜÜÜÜÜܲ ßßßßß ßßßßß ÜÜÜÜ ÞÛÛÛÛÛÛß
ßßßÛÜÜÜÜÛßßßßß     ßßßßßßßßÛÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÛßßßßsQz²ßßßßßßßßßßßßßßßß  Ûßßß
                                                                     ²ß
                                                                    ß² 

 ÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜ
ÛÛÛßßß                                                                   ßßßÛÛÛ
Ûß                       Match v1.9 (c) Crystal Impact                       ßÛ
Ûß                                                                           ßÜ
² ÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄÄ ÄÄ ²
±   Disks: 12 x 5,00mb                              Date : October 30, 2008    ±
°   OS   : Windows                                     			      °
 Ü  ÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜ  ÜÜ   Ü
ßÜßß
Ûß 
²  Release Description:
±  ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

   Match! is an easy-to-use software for phase identification from powder
   diffraction data, which has become a daily task in material scientists
   work. Match! compares the powder diffraction pattern of your sample to
   a database containing reference patterns in order to identify the phases
   which are present. Single as well as multiple phases can be identified
   based on both peak data and raw (profile) data.

   As reference database, you can apply the included free-of-charge
   IUCr/COD/AMCSD database and/or ICSD/Retrieve (if you have a valid
   licence), use any ICDD PDF product, and/or create a user database based
   on your own diffraction patterns. The user database patterns can be edited
   manually, imported from peak files, calculated from crystal structure data
   (e.g. CIF files), or imported from your colleague's user database.
   
°  
 Ü  ÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜ  ÜÜ   Ü
ßÜßß
Ûß Installation:
²  """""""""""""""
±  Install, unrar crack.rar to installdir. Also delete Onlineupdate.exe
°  from intalldir (or block it from accessing network).

 Ü  ÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜ  ÜÜ   Ü
ßÜßß
Ûß Greetz:
²  """""""""""""""
°  
   

 Ü  ÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜÜ  ÜÜ   Ü
ßÜßß
Ûß Contact Us:
²  """""""""""""""
±  
°  

°                                                                       
ßßÛÜÜÜÜ Ü                                                             Ü ÜÜÜÜÛßß
  ßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßßß